利用原子力显微镜表征FePS₃纳米片的厚度与形貌

采用牛津仪器Jupiter XR原子力显微镜对在Si基底上的FePS₃纳米片进行了厚度与形貌表征。该设备凭借其出色的大范围扫描能力，首先快速定位了分散在基底上的目标纳米片。随后，我们使用高分辨率轻敲模式对单个纳米片进行精细扫描，获得了清晰的边缘形貌。通过仪器配套的NanoScope Analysis软件进行剖面分析，精确测量出纳米片相对于基底的高度台阶。