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原子力显微镜(AFM)测试样品表面粗糙度
来源: | 作者:JSHW | 发布时间: 2025-09-30 | 290 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ | 分享到:

原子力显微镜(AFM)测试样品表面粗糙度


选取一块钙钛矿薄膜样品,采用AFM的轻敲模式无损地获取其真实的表面三维形貌,微悬臂探针在样品表面进行高频振荡,通过监测其振幅的变化来反馈表面起伏,从而避免了接触模式可能对柔软钙钛矿表面造成的划伤。

测试过程与发现:

将制备好的钙钛矿样品固定于AFM样品台上后,我们随机选取了某个 20 μm × 20 μm 区域进行扫描。探针如同一个极其敏锐的“指尖”,以纳米级的步进在表面滑过,逐点记录高度信息,最终由软件重构出详细的三维表面形貌图。

通过AFM软件的分析功能,我们获得了如下样品表面形貌以及关键的参数: