服务内容:
三维表面形貌分析: 精确重建样品表面的三维形貌图像,直观展现表面的起伏、纹理与结构特征。
粗糙度与轮廓参数测量: 提供符合ISO标准的Ra、Rq、Rz等多种粗糙度参数,以及台阶高度、平面度、体积等关键尺寸的精准测量。
薄膜厚度与膜基形貌分析: 对透明薄膜的厚度进行测量,并分析膜层的表面平整度与覆盖情况。
微观形变与磨损分析: 对比处理前后的表面形貌变化,用于分析材料的磨损、腐蚀、划痕等性能。
技术优势:
非接触无损检测: 光学测量方式,完全避免对柔软、易损伤样品表面的触碰和破坏。
高精度与高效率: 纳米级的纵向分辨率,结合高速扫描,可快速获取大面积三维数据,提升检测效率。
跨尺度测量能力: 兼顾高分辨率与大视野,既能分析微观粗糙度,也能测量宏观的平面度和轮廓度。
强大的分析软件: 提供丰富的数据分析工具,可轻松获取数十种表面参数,并生成直观的二维、三维图表。
典型应用客户:
半导体与MEMS: 晶圆表面粗糙度、CMP工艺后平整度、光刻胶形貌、微结构尺寸测量。
精密加工与制造: 刀具、轴承、模具的表面粗糙度与磨损情况检测。
光学与镀膜行业: 光学元件表面质量、薄膜平整度检验。
材料科学研发: 涂层表面形貌、复合材料界面分析、材料摩擦学性能研究。
生物与医疗器件: 人工植入体表面粗糙度、微流道芯片的轮廓测量。