牛津仪器Jupiter XR AFM并非仅用于观察形貌的传统设备，它是一款集卓越稳定性、卓越分辨率与卓越多功能性于一体的全功能型科研级AFM。其核心优势在于：

• 卓越稳定性，获取真实数据：采用主动隔振与声学屏蔽技术，确保在常规实验室环境下也能获得原子级分辨率的稳定数据，有效隔离环境干扰，保障测量的真实性与可重复性。

• 卓越分辨率，洞察原子尺度：凭借优化的控制系统与高性能探针，可轻松获得原子/分子级分辨率的图像，清晰呈现表面台阶、原子排列、高分子链结构等。

• 卓越多功能性，一站式性能分析：集成多种先进测量模式，可在一次测量中同步获得样品表面的形貌、力学模量、电势、磁畴、摩擦力和表面电势等多重物理性质图谱。

• 卓越易用性，提升科研效率：拥有大样品台、全自动激光与探测器对准以及直观的软件界面，极大降低了高端AFM的操作门槛，让您能更专注于科学发现本身。

依托Jupiter XR AFM的强大多功能平台，我们提供全面、定量的纳米尺度表面性能分析服务：

1. 超高分辨率三维形貌分析

• 提供样品表面在纳米乃至原子尺度的真实三维形貌图，并可进行粗糙度、台阶高度、颗粒粒径等精确的定量统计分析。

2. 纳米力学性能Mapping

• 通过接触共振模式 等先进技术，定量测量并绘制样品表面的杨氏模量、粘附力、耗散 等力学性质分布图，广泛应用于复合材料、生物材料和高分子薄膜的表征。

3. 纳米电学性能Mapping

• 使用开尔文探针力显微镜 测量表面电势 与功函数，使用导电原子力显微镜 测量微区电流 与电阻，是研究半导体器件、太阳能电池、导电材料的强大工具。

4. 纳米磁学性能Mapping

• 利用磁力显微镜 模式，无损观测样品表面的磁畴结构 与磁畴壁，适用于磁性薄膜、存储材料的研究。

5. 表面摩擦与化学性质Mapping

• 通过横向力显微镜，研究材料表面的摩擦系数 分布和亲疏水性差异，可用于表面改性效果评估和多相材料分析。

我们的服务在功能材料与器件的研发中扮演着至关重要的角色：

• 半导体与电子器件：测量晶体管结构的表面电势、分析载流子浓度分布、定位漏电点位，进行失效分析。

• 新能源材料：Mapping太阳能电池材料的功函数与光电响应，分析锂电池电极材料的模量分布与导电性。

• 高分子与复合材料：可视化共混高分子中不同组分的纳米力学性能（模量、粘弹性）分布，研究界面效应。

• 生命科学与生物材料：在近生理环境下测量生物分子（如蛋白质、DNA）的形貌，以及细胞、生物支架的纳米力学性质（如刚度）。

• 数据存储与磁性材料：观察新型磁性薄膜的磁畴形态，分析其稳定性与读写性能。