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深硅刻蚀(Oxford)
    发布时间: 2026-08-21 17:22    
深硅刻蚀(Oxford)

1. 浅硅刻蚀:最大刻蚀深度<10um;刻蚀速率为300nm~1.2um/min;硅/光刻胶选择比:<10:1, 侧壁与底面夹角:90°±1°。

 

2. Si刻蚀:最大刻蚀深度大于600微米;常规硅刻蚀速率为3~10μm/min,最高可达20um/min;硅/二氧化硅刻蚀选择比:>50:1,硅/光刻胶刻蚀选择比:>20:1,侧壁与底面夹角:90°±1°

 

3. 低温刻蚀:可实现液氮冷却的低温刻蚀,温度~-110°C


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